从微米级芯片的巨量转移,到红光效率低下的全彩化难题,再到高密度驱动集成与微尺度检测修复,每一个环节都考验着产业链的技术极限。Yole Group指出,MicroLED技术已进入“成败关键阶段”,行业内首条商用生产线正在加速产能爬坡,技术必须证明其良率、可制造性和成本能够走向平衡。
爱发科技术优势

针对MicroLED全链路工艺需求,爱发科打造了覆盖透明导电膜图形化、刻蚀、牺牲层去除、金属电极沉积、反射膜沉积等关键环节的专业设备与解决方案。

新型高载流子浓度n-GaN溅射工艺

常规MicroLED器件受限于p-GaN导电性较低,易出现电流拥挤和较高串联电阻等问题。在此背景下,新型器件结构在顶部引入高载流子浓度n-GaN层,有望改善载流子注入与导电特性,促进电流均匀分布,从而对器件效率与发光均匀性的提升具有潜在价值。

采用“RaSE”技术沉积的n-GaN薄膜

采用爱发科“RaSE”法(Radical assist Sputter Epitaxy)在GaN Template上再生长的n-GaN薄膜。XRD的结果显示,sputter层的半高宽与Template层无明显差异,表明晶体质量未出现明显劣化。TEM结果显示,sputter层与Template层的界面平直,结合紧密。表明通过RaSE法生长的膜层外延性良好。并且我们通过优化溅射条件,可有效调控薄膜的电学特性,实现n型载流子浓度在1×10¹⁹ ~ 1×10²⁰ cm⁻³范围内的可控掺杂。

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